X射線晶體分析儀是研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型分析儀器，主要應(yīng)用于單晶定向、檢驗(yàn)缺陷、測(cè)定點(diǎn)陣參數(shù)、測(cè)定殘余應(yīng)力、研究板材、棒材的結(jié)構(gòu)，研究未知物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和單晶位錯(cuò)等。

　　

　　X射線晶體分析儀主要特點(diǎn)：

　　

　　1.冷卻裝置：自帶制冷系統(tǒng)，無需外接水循環(huán)，并自動(dòng)控制水溫及顯示X光管溫度。

　　

　　2.外射線計(jì)量不大于2.5μSv/h

　　

　　3.X光管：額定功率2KW(銅靶)

　　

　　4.定時(shí)：單片機(jī)自動(dòng)定時(shí)，定時(shí)時(shí)間任意選擇。

　　

　　X射線晶體分析儀使用條件

　　

　　海拔不超過一千米，環(huán)境+10℃～40℃。海拔超過一千米時(shí)，環(huán)境溫度>40℃時(shí)，可按一般電氣標(biāo)準(zhǔn)降低使用功率。

　　

　　X射線晶體分析儀按下列程序進(jìn)行：

　　

　　1．打開冷卻水，繼電器觸點(diǎn)K；即接通。

　　

　　2．接通外電源。

　　

　　3．按低壓按鈕SB3，交流接觸器KM1接通，即其觸點(diǎn)KM1—l，KM1－2接通。

　　

　　4．預(yù)熱3分鐘后按下高壓按鈕SB4。S表示管流零位開關(guān)及過負(fù)荷開關(guān)，正常情況下應(yīng)接通，故交流接觸器KMn－l，KMn－2接通。

　　

　　5．根據(jù)X射線管的額定功率確定管壓和管流。調(diào)整管壓系通過調(diào)壓器改變高壓變壓器的一次電壓來實(shí)現(xiàn)。經(jīng)過由二極管V1，V2及電容C1，C2組成的倍壓全波整流線路將高壓加到X射線管上。高壓值由電壓表讀出。通過燈絲電位器R可調(diào)節(jié)管流，其數(shù)值由電流表讀出。

　　

　　關(guān)閉的過程與起動(dòng)的過程相反，即先將管流、管壓降至zui小值，再切斷高壓，切斷低壓電及外電源，經(jīng)歷15min后關(guān)閉冷卻水。

　　

　　使用X射線儀時(shí)必須注意安全，防止人身的任何部位受到X射線的直接照射及散射，防止觸及高壓部件及線路，并使工作室有經(jīng)常的良好通風(fēng)。